Thesis: Gate leakage variability in nano-CMOS transistors

sumerland137

مشرف بالجامعة - فهــد الرافدين
طاقم الإدارة
Gate leakage variability in nano-CMOS transistors
images

لجنة مناقشـــة متساهلة ومضمونة :D
Gate leakage variability in nano-scale CMOS devices is investigated through advanced modelling and simulations of planar, bulk-type MOSFETs. The motivation for the work stems from the two of the most challenging issues in front of the semiconductor industry - excessive leakage power, and device variability - both being brought about with the aggressive downscaling of device dimensions to the nanometer scale. The aim is to deliver a comprehensive tool for the assessment of gate leakage variability in realistic nano-scale CMOS transistors

Link

http://theses.gla.ac.uk/771/01/2009markovphd.pdf

 
هاهاها :D هاهاها
ماشاء الله عليك اخي د.سعد عندك عنصر التشويق حاضرا" في التدريس
بوركت الايادي التي تعمل وتسهر وتتعب وتعطي من وقتها لغيرها

:gift:
 
هاهاها :D هاهاها
ماشاء الله عليك اخي د.سعد عندك عنصر التشويق حاضرا" في التدريس
بوركت الايادي التي تعمل وتسهر وتتعب وتعطي من وقتها لغيرها

:gift:
كنت أتمنى ان تعجبك أخي الحبيب د. فؤاد
 
عودة
أعلى