-d : Est la distance inter r騁iculaire des plans cristallins assurant la diffraction.
-θ : L’angle de diffraction et la longueur d’onde diffract馥.
- λ : la longueur d'onde des rayons de fluorescence.
Le mouvement des compteurs est coupl・avec celui du cristal analyseur de telle sorte que la
rotation d’un angle du cristal entra絜e un d駱lacement de (2θ) des compteurs, permettant ainsi
la mesure en un point quelconque du spectre
2. Les déférents types de fluorescence
Fluorescence primaire
La fluorescence primaire r駸ulte directement de l’effet sur l’駘駑ent consid駻・du
rayonnement primaire incident. Elle est la seule responsable de l’駑ission de fluorescence X
pour des 馗hantillons d’駘駑ents purs.
Fluorescence secondaire, ou surexcitation
La fluorescence d’un 駘駑ent de l’馗hantillon excit・par le faisceau incident peut (si elle est
assez 駭erg騁ique) jouer ・son tour le re de faisceau incident "excitateur" sur un
3. L’appareillage
L'appareillage comprend :
La source des rayons X
La production des rayons X se fait par bombardement de
acc駘駻駸 ・cause d’une tr鑚 grande diff駻ence de potentiel (
Collimateur
Le collimateur est form・d’une s駻i・de fines plaques parall鑞es
rayons de fluorescence r鳬mis par l’馗hantillon et les rayons
cristal analyseur pour donner un faisceau parall鑞e.
Cristal analyseur
permet la diffraction des rayons incidents de l’馗hantillon
inter r騁iculaire des cristaux 騁ant fixes. Dans les analyses
plus fort signal et le meilleur rapport signal /bruit de fond.
autre
Les détecteurs
Selon la qualit・de r駱onse on utilise soit :
Un d騁ecteur ・flux gazeux, le mieux adapt・pour les faibles 駭ergies (faible num駻o
atomique).
Un d騁ecteur ・scintillation, le mieux adapt・pour les fortes 駭ergies (grand num駻o
atomique).
4. Etalonnage
Calibration
Les droites d’騁alonnage sont obtenues ・partir de l’analyse des standards (mat駻iaux de
r馭駻ence certifi駸, proche des 馗hantillons ・analyser) ce qui nous permet de mettre en
relation l’intensit・en ｫ kilo-coups par seconde ou kcpsｻ mesur馥 par le d騁ecteur et la
concentration connue de l’駘駑ent consid駻・ｫ C en % ou ppm ｻ.
La théorie de la régression de SuperQ (Logiciel du spectromètre XRF du centre
de recherche REMINIX)
Une relation lin饌ire s’exprime l’intensit・en fonction de concentration 馗rire comme suit :
I = a.C+b (1)
Cependant, dans le cas de l’analyse d’馗hantillons, c’est la concentration de l’駘駑ent 騁udi
qui va 黎re d馘uite de l’intensit・enregistr馥 au d騁ecteur, pour cela, l’駲uation (1) va 黎re
modifi馥 et donner l’駲uation (2) :
C = E.I + D (2)
Où E et D sont 2 facteurs qui sont donnés dans la table de régression du logiciel et qui
correspondent respectivement à 1/a (en %/kcps) et –b/a (en %). Inversement, la pente et
l’ordonn馥 ・l’origine de la droite que le logiciel affiche ・l’馗ran peuvent 黎re retrouv駸
partir de ces 2 param鑼res en utilisant (a=1/E*0.0001) (en ppm/kcps) b= -a D*10000
(en
kcps).
Le logiciel SuperQ utilise l’駲uation 2 pour le calcul de la concentration des 馗hantillons
mais les droites de calibration affich馥s ・l’馗ran suivent l’駲uation (1).
Pour chaque 駘駑ent (et donc pour chaque droite) plusieurs param鑼res de r馮ression sont
calcul駸 et donn駸 par le logiciel SuperQ :
Les facteurs D et E
Paramètres de l’駲uation de la droite de r馮ression permettent le calcul direct de la
Le RMS (Root Mean Square)
Permet d’estimer l’erreur commise lors de l’approximation de la droite de r馮ression ・partir
nuage de point. Le RMS est calcul・selon l’駲uation (3).
-C
ref
: la concentration du standard de r馭駻ence.
- C
calc
:
la concentration calcul馥 ・partir de l’駲uation de la droite de calibration.
-n : le nombre de standards utilis駸.
-K : le nombre de degr・de libert・
RMS repr駸ente l’馗art type entre les concentrations de r馭駻ence et les concentrations
calcul馥s. Plus l’馗art entre les concentrations de r馭駻ence et les concentrations calcul馥s est
grand plus l’erreur sur la droite sera grand. Le RMS est donn・par le logiciel en % pour les
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